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Exame: “Caracterização de Nanoestruturas Metálicas por Feixe de Íons” (Felipe Ferreira Selau)
29 de outubro de 2019:10:30
Felipe Ferreira Selau, “Caracterização de Nanoestruturas Metálicas por Feixe de Íons” (“Characterization of Metal Nanostructures by Ion Beam”)
Orientador: Prof. Dr. Pedro Luis Grande
Data: 29/10/2019, 10h30min.
Local: Sala de Videoconferência/IF-UFRGS (prédio 43176 – sala 302).