 Está de volta, depois das merecidas férias de toda a equipe!
A partir desta edição, vai destacar um trabalho publicado com a participação de algum membro do IF-UFRGS. O critério para merecer o destaque é que o trabalho tenha uma média anual superior a 20 citações. Vejam o destaque desta semana: High-resolution depth profiling in ultrathin Al2O3 films on Si, com a participação de Israel Baumvol e Cristiano Krug.
O prof. Sílvio Cunha e este editor estiveram na UFSC, entre 21 e 25 de fevereiro, participando de uma reunião para implantação do Curso de Licenciatura em Física a Distância, a ser ministrado naquela universidade, através do consórcio UFSC-UFRGS-UFSM-UDESC-UEM. Tivemos a oportunidade de conhecer a interessante experiência do CEDERJ, apresentada pelo seu Vice-Diretor, prof. Celso Costa. Não deixem de ver as novidades sobre o Ano Mundial da Física.
C.A. dos Santos
Editor
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