Emissão de Raios-X Induzida por Partículas (PIXE) no IF-UFRGS
Emissão de Raios-X Induzida por Partículas Carregadas,
ou Particle Induced X-Ray Emission (PIXE), é uma técnica de análise de
materiais não-destrutiva e de caráter multi-elementar. O material (amostra) a ser
analisado é irradiado por partículas carregadas produzidas por um acelerador. A
interação destas partículas com os átomos da amostra faz com que,
dentre outros efeitos, elétrons de camadas internas dos átomos da amostra sejam
ejetados. Quando as vacâncias resultantes são espontâneamente preenchidas por
elétrons de camadas mais externas (processo de desexcitação), são
emitidos raios-X com energias características para cada elemento constituinte da amostra.
Estes raios-X são então analizados por meio de um sistema de detecção
conveniente. A técnica PIXE permite medir quantitativamente concentrações de
elementos até o limite de algumas partes por milhão, chegando, em alguns casos, em
algumas partes por bilhão. Devido a esse baixo limite de detecção, a
técnica PIXE encontra aplicações em vários campos de pesquisa, como a
física, medicina, biologia, arqueologia e geologia dentre outros. Em particular, essa
técnica tem sido extensivamente utilizada em medidas relacionadas à poluição
ambiental.
No Instituto de Física da Universidade Federal do Rio Grande
do Sul (IF-UFRGS), a linha PIXE foi instalada juntamente com o novo acelerador tipo Tandetron de
feixes iônicos montado em 1997 no Laboratório de Implantação
Iônica. Desde então, essa técnica tem sido usada para a análise de
diversos materias, incluindo tecidos biológicos e aerossóis atmosféricos.
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Lindolfo Meira (meira@if.ufrgs.br)