ApresentaçãoEmissão de Raios-X Induzida por Partículas Carregadas, ou Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) , é uma técnica de análise de materiais não-destrutiva e de caráter multi-elementar. O material (amostra) a ser analisado é irradiado por partículas carregadas produzidas por um acelerador. A interação destas partículas com os átomos da amostra faz com que, dentre outros efeitos, elétrons de camadas internas dos átomos da amostra sejam ejetados. Quando as vacâncias resultantes são espontâneamente preenchidas por elétrons de camadas mais externas (processo de desexcitação), são emitidos raios-X com energias características para cada elemento constituinte da amostra (ver figuras). Estes raios-X são então analizados por meio de um sistema de detecção conveniente. A técnica PIXE permite medir quantitativamente concentrações de elementos até o limite de algumas partes por milhão, chegando, em alguns casos, em algumas partes por bilhão. Devido a esse baixo limite de detecção, a técnica PIXE encontra aplicações em vários campos de pesquisa, como a física, medicina, biologia, arqueologia e geologia dentre outros. Em particular, essa técnica tem sido extensivamente utilizada em medidas relacionadas à poluição ambiental.
No Instituto de Física da Universidade Federal do Rio Grande do Sul (IF-UFRGS), a linha PIXE foi instalada juntamente com o novo acelerador tipo Tandetron de feixes iônicos montado em 1997 no Laboratório de Implantação Iônica. Desde então, essa técnica tem sido usada para a análise de diversos materias, incluindo tecidos biológicos e aerossóis atmosféricos.